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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Übersicht über Verfahren der optischen Rauheitsmessung
 
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1988
Conference Paper
Title

Übersicht über Verfahren der optischen Rauheitsmessung

Abstract
Der steigende Bedarf der Oberflächenmeßtechnik an Verfahren mit der Möglichkeit schneller Meßwerterfassung (100 %-Kontrolle), flächenhafter Prüfung (evtl. mit Defekterkennung) und leichter Automatisierbarkeit einerseits, spezielle Meßprobleme an extrem glatten sowie weichen Oberflächen andererseits beschleunigten die Entwicklung industriell einsetzbarer optischer Rauheitsmeßverfahren innerhalb der letzten Jahre. Im folgenden werden die ihnen zugrunde liegenden Prinzipien anhand jeweils eines kommerziellen Gerätes dargestellt. (IPM)
Author(s)
Slavik, J.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Mainwork
Handbuch - Zerstörungsfreie Prüfung der optischen Rauheitsmessung  
Conference
Zerstörungsfreie Prüfung von Oberflächen 1988  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)
  • Autofokus-Verfahren

  • Heterodyn-Verfahren

  • Interferometrie

  • Phasenstift-Verfahren

  • Profilometer

  • Rauheitsmessung

  • Streulichtverfahren

  • Weißlicht-Speckle-Verfahren

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