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Konferenzschrift
Simulationsgestützte Zuverlässigkeitsbewertung im Mikro-Nano Übergangsbereich
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2010
Conference Paper
Title
Simulationsgestützte Zuverlässigkeitsbewertung im Mikro-Nano Übergangsbereich
Author(s)
Wittler, O.
Huber, S.
Mroßko, R.
Walter, H.
Auerswald, E.
Michel, B.
Mainwork
Mikro-Nano-Integration. CD-ROM
Conference
Workshop Mikro-Nano-Integration 2010
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM