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2006
Conference Paper
Title
Zuverlässigkeit von Embedded Flash
Abstract
Im Zusammenhang mit Flash-Speichern gibt es eine ganze Reihe von potentiellenEffekten, die den Datenerhalt von Zellen negativ beeinflussen können. Durch Optimierung der Fertigungsprozesse, geeignete Testverfahren zur Identifizierung problematischer Einzelzellen sowie diverse schaltungstechnische Maßnahmen lassen sich diese Effekte jedoch beherrschen und Flash-Speicher können mit hoher Zuverlässigkeit realisiert werden.
Conference