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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Zuverlässigkeit von Embedded Flash
 
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2006
Conference Paper
Title

Zuverlässigkeit von Embedded Flash

Abstract
Im Zusammenhang mit Flash-Speichern gibt es eine ganze Reihe von potentiellenEffekten, die den Datenerhalt von Zellen negativ beeinflussen können. Durch Optimierung der Fertigungsprozesse, geeignete Testverfahren zur Identifizierung problematischer Einzelzellen sowie diverse schaltungstechnische Maßnahmen lassen sich diese Effekte jedoch beherrschen und Flash-Speicher können mit hoher Zuverlässigkeit realisiert werden.
Author(s)
Paschen, U.
Mainwork
Flashen im Automobil  
Conference
Anwenderforum Flashen im Automobil 2006  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Keyword(s)
  • Datenerhaltung

  • Flash-Speicher

  • Flash-Zelle

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