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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Digital-holographischer Mehrwellenlängensensor HoloTop zur 100-Prozent-Kontrolle von Oberflächen
 
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2012
Journal Article
Title

Digital-holographischer Mehrwellenlängensensor HoloTop zur 100-Prozent-Kontrolle von Oberflächen

Other Title
Digital Holographic Multiwavelength Sensor HoloTop for 100 Percent Inspection of Surfaces
Abstract
Das digital-holographische Verfahren ermöglicht erstmals die 3D-Vermessung auch rauer Oberflächen. Möglich wird dies durch die Überlagerung der Laserstrahlen bei der Mehrwellenlängenholographie. Dabei wird aus mehreren Interferogrammen ein topographisches Abbild numerisch berechnet. Innerhalb einer Sekunde vermisst das System eine Fläche von 20 mm×20 mm mikrometergenau und eignet sich dadurch besonders für die Inline-Inspektion von Bauteilen. For the first time digital holography allows the 3D-measurement of even rough surfaces. This is made possible by the superposition of laser beams in Digital Multiwavelength Holography. For that a 3D topographic image is numerically calculated from several interferograms. The system HoloTop detects microstructures over an area of 20 mm×20 mm withi n one second only, thus making it suitable for a 100% inspection directly in the production line.
Author(s)
Carl, Daniel  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Fratz, Markus  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Giel, Dominik
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Höfler, Heinrich  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Journal
Technisches Messen : TM  
DOI
10.1524/teme.2012.0270
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)
  • ditial multi-wavelength holography

  • 3C topography measurement

  • inline inspection system

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