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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. CMOS/SOI-Technologie auf implantiert vergrabenem Isolator
 
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1989
Conference Paper
Title

CMOS/SOI-Technologie auf implantiert vergrabenem Isolator

Abstract
CMOS auf vergrabenem Isolator erlaubt Erhöhung der Packungsdichte, der Schaltgeschwindigkeit und der Immunität gegen ionisierende Strahlung. Durch Hochstromimplantation von Sauerstoff in Silizium entsteht eine nahezu ideale isolierte Siliziumschicht, in die direkt CMOS-Transistoren integriert werden.
Author(s)
Belz, J.
Burbach, G.
Vogt, H.
Zimmer, G.
Mainwork
Mikroelektronik. Vorträge der GME-Fachtagung  
Conference
Mikroelektronik 1989  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Keyword(s)
  • Isolator

  • SIMOX

  • SOI-CMOS

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