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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Artificial intelligence with neural networks in optical measurement and inspection systems
 
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2020
Journal Article
Title

Artificial intelligence with neural networks in optical measurement and inspection systems

Other Title
Künstliche Intelligenz mit neuronalen Netzen in optischen Mess- und Prüfsystemen
Abstract
Intelligenz und maschinelles Lernen, meist mittels künstlicher neuronaler Netze, anwenden. Die mit diesem Ansatz erzielten Ergebnisse sind oft sehr vielversprechend und erfordern weniger Entwicklungsaufwand. Die Ergänzung und Ablösung klassischer Bildverarbeitung durch Methoden des maschinellen Lernens ist jedoch insbesondere bei Anwendungen mit hohen Sicherheits- oder Qualitätsanforderungen nicht unproblematisch, da letztere Eigenschaften aufweisen, die sich von klassischen Bildverarbeitungsmethoden erheblich unterscheiden. In diesem Beitrag werden wesentliche Aspekte und Trends des maschinellen Lernens und der künstlichen Intelligenz für den Einsatz in optischen Mess- und Inspektionssystemen vorgestellt und diskutiert.

; 

Optical measuring and inspection systems play an important role in automation as they allow a comprehensive and non-contact quality assessment of products and processes. In this field, too, systems are increasingly being used that apply artificial intelligence and machine learning, mostly by means of artificial neural networks. Results achieved with this approach are often very promising and require less development effort. However, the supplementation and replacement of classical image processing methods by machine learning methods is not unproblematic, especially in applications with high safety or quality requirements, since the latter have characteristics that differ considerably from classical image processing methods. In this paper, essential aspects and trends of machine learning and artificial intelligence for the application in optical measurement and inspection systems are presented and discussed.
Author(s)
Heizmann, Michael
KIT, Karlsruhe
Braun, Alexander
Hochschule Düsseldorf
Hüttel, Markus  
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
Klüver, Christina
Universität Duisburg-Essen
Marquardt, Erik
VDI
Overdick, Michael
Sick AG
Ulrich, Markus
KIT, Karlsruhe
Journal
Automatisierungstechnik : AT  
DOI
10.1515/auto-2020-0006
Language
English
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
Keyword(s)
  • Künstliche Intelligenz

  • Neuronales Netz

  • Optisches Messverfahren

  • Optisches Prüfen

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