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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Analyseverfahren, zerstörende Analyse und hochauflösende Diagnostik
 
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2006
Book Article
Title

Analyseverfahren, zerstörende Analyse und hochauflösende Diagnostik

Abstract
Es werden Prüftechniken und Analyseverfahren vorgestellt, die für die Zuverlässigkeitsqualifizierung neuer Technologien in der Aufbau- und Verbindungstechnik geeignet sind. Neben geeigneten Verfahren zur Belastungssimulation und der zerstörungsfreien Prüftechnik stehen auch die Methoden zur zerstörenden Analyse und Zielpräparation im Mittelpunkt, insbesondere Verfahren der hochauflösenden Elektronenmikroskopie, der Fokussierenden Ionenstrahltechnik und der Festkörperphysikalischen Analytik.
Author(s)
Petzold, M.
Altmann, F.
Wilde, J.
Schneider-Ramelow, M.
Mainwork
Methoden zur Zuverlässigkeitsqualifizierung neuer Technologien in der Aufbau- und Verbindungstechnik  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Werkstoffmechanik IWM  
Keyword(s)
  • Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente

  • Technologiequalifizierung

  • Aufbau- und Verbindungstechnik

  • Analyseverfahren

  • Prüftechnik

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