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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Eine neue Methode zur Charakterisierung und Detektion der Degradation von Die-Attach Materialien durch In-Situ Zustandsüberwachung der thermischen Eigenschaften
 
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2010
Conference Paper
Titel

Eine neue Methode zur Charakterisierung und Detektion der Degradation von Die-Attach Materialien durch In-Situ Zustandsüberwachung der thermischen Eigenschaften

Alternative
A new method for characterization and detection of degradation in die-attach materials by in-situ health monitoring of thermal properties
Author(s)
Mazloum Nejadari, S.A.
Wittler, O.
Michel, B.
Hauptwerk
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2010
Konferenz
Fachtagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) 2010
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Language
German
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Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
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