English
Deutsch
Log In
Password Login
or
Log in with Fraunhofer Smartcard
Research Outputs
Projects
Researchers
Institutes
Statistics
Fraunhofer-Gesellschaft
Home
Fraunhofer-Gesellschaft
Projekt
NT 0902 /1
Export
Statistics
Options
FKZ
NT 0902 /1
Fact Sheet
Partner
Project Title
NT 0902 /1
Description
Analyse Tiefer Störstellen in III-V-Halbleitern
Start
01.10.1978
End
30.09.1980
Framework
Technologie- und Innovationsförderung
fundingProgram
Bauelemente und Strukturen für den Sub-100 nm Bereich
Funder
Deutsches Bundesministerium für Bildung und Forschung
BMBF
