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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Optische Messvorrichtung und Verfahren zum Bestimmen eines mehrdimensionalen Oberflächenmodells

Abstract
Die Anmeldung betrifft eine optische Messvorrichtung (1) sowie ein Verfahren zum Bestimmen eines mehrdimensionalen Oberflächenmodells eines Objekts (10). Die optische Messvorrichtung (1) umfasst eine Kameraeinheit (2) mit einem ersten Bildsensor (5) und einem mit dem ersten Lichtsensor (5) starr gekoppelten oder starr koppelbaren zweiten Bildsensor (6) sowie eine Verarbeitungseinheit (8). Die Verarbeitungseinheit (8) ist dazu eingerichtet, eine Lagebeziehung des ersten und zweiten Bildsensors (5, 6) zu speichern, zu jeder einer Mehrzahl von nacheinander eingenommenen Kamerapositionen der Kameraeinheit (2) in Bezug auf ein Objekt (10) ein mittels des ersten Bildsensors aufgenommenes erstes Bild des Objekts (10) und ein mittels des zweiten Bildsensors aufgenommenes zweites Bild des Objekts (10) zu speichern, auf Grundlage der ersten Bilder eine Oberflächentopographie einer Oberfläche (11) des Objekts (10) zu rekonstruieren, zu jeder der Mehrzahl von Kamerapositionen eine Lage des ersten Bildsensors (5) bezüglich des Objekts (10) auf Grundlage der ersten Bilder sowie eine Lage des zweiten Bildsensors (6) bezüglich des Objekts (10) auf Grundlage der jeweiligen Lage des ersten Bildsensors (5) bezüglich des Objekts (10) und der gespeicherten Lagebeziehung des ersten und zweiten Bildsensors (5, 6) zu bestimmen und auf Grundlage der zweiten Bilder und der Oberflächentopographie ein mehrdimensionales Oberflächenmodell des Objekts (10) zu erzeugen.
Inventor(s)
Ramm, Roland  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Heist, Stefan  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Kühmstedt, Peter  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Notni, Gunther  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Link to:
Espacenet
Patent Number
DE102021203812 A1
Publication Date
October 20, 2022
Language
German
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
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