Verfahren zur Charakterisierung von Werkstuecken aus elektrisch leitfaehigen Materialien

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Charakterisierung von Werkstuecken aus einem elektrisch leitfaehigen Material oder aus einem Materialverbund mit einer Schicht oder einem Substrat aus dem elektrisch leitfaehigen Material, bei dem ein elektrisch leitfaehiger Bereich des Werkstuecks durch flaechige Einkopplung eines elektromagnetischen Impulses induktiv erwaermt und eine aus der induktiven Erwaermung resultierende oertliche Temperaturverteilung an einer Oberflaeche des Werkstuecks waehrend der Einkopplung und/oder in zeitlichem Abstand zum Beginn der Einkopplung des elektromagnetischen Impulses erfasst wird. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass die induktive Erwaermung mit einer Anregungsfrequenz von ≤ 20 kHz erfolgt, die so gewaehlt ist, dass eine Eindringtiefe des elektromagnetischen Impulses in den elektrisch leitfaehigen Bereich groesser oder gleich einer Tiefe von zu erfassenden verdeckten Fehlstellen im elektrisch leitfaehigen Bereich und/oder groesser oder gleich einer Dicke der Schicht bzw. des Substrates aus dem elektrisch leitfaehigen Material ist. Mit dem vorliegenden Verfahren lassen sich verdeckte Fehlstellen in metallischen Werkstuecken oder darauf aufgebrachten nicht elektrisch leitfaehigen Schichten mit hoher Nachweisempfindlichkeit erfassen. Das Verfahren ermoeglicht auch die Bestimmung der Schichtdicke nicht elektrisch leitfaehiger Schichten auf metallischen Substraten mit hoher Genauigkeit.

WO2005005972 A UPAB: 20050224 NOVELTY - Workpiece examination method in which a workpiece of electrically conducting material or of a composite construction with at least an electrically conducting layer in inductively heated by planar coupling of electromagnetic impulses at a frequency of 20 kHz. The resultant localized temperature distribution is measured. Inductive heating extends through the workpiece or to a depth of interest in which defects are to be located. USE - Non-destructive testing method for detecting sub-surface defects in metallic components or composite components that have at least a metallic layer. ADVANTAGE - Concealed defects in metallic workpieces or insulating layers applied to them can be detected with a high degree of sensitivity. Layer thicknesses of insulating layers applied to metallic substrates can be accurately determined.