Vorrichtung und Verfahren zur Detektion einer fluoreszierenden Substanz auf einer technischen Oberflaeche

Beschrieben wird eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zur Detektion wenigstens einer auf einer technischen Oberflaeche (1) befindlichen Materialschicht (2) mit wenigstens einer die technische Oberflaeche (1) beleuchtenden Lichtquelle (3), die ein auf die Materialschicht (2) gerichtetes Lichtbuendel (6) mit einer die Materialschicht (2) zu Fluoreszenzstrahlung (9) anregenden Wellenlaenge aussendet, wenigstens einer Detektoreinheit (4), die die Fluoreszenzstrahlung (9) empfaengt, sowie einer Auswerteeinheit, die eine qualitative Materialbestimmung der fluoreszierenden Materialschicht (2) in Abhaengigkeit der Fluoreszenzstrahlung (9) vornimmt. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass das Lichtbuendel (6) ein punkt- oder linienfoermiges Beleuchtungsmuster auf der technischen Oberflaeche (1) erzeugt und einen Winkel 0° < ? < 90° mit der Normalen der Oberflaeche einschliesst, dass die Detektoreinheit (4) als ein ortsaufloesendes Kamerasystem ausgebildet ist, mit einer Kamerablickrichtung (8), die einen Winkel 0° ? ? < 90° mit der Normalen der Oberflaeche einschliesst, dass ? ? ? ist, dass die technische Oberflaeche (1) relativ zum Lichtbuendel (6) bewegbar ist und dass die Auswerteeinheit eine Lageveraenderung des Beleuchtungsmusters relativ zur Kamerablickrichtung (8) im Wege des Lichtschnittverfahrens auswertet.

DE 10244819 A UPAB: 20040525 NOVELTY - Apparatus for detection of material layer(s) on technical surface, comprises lamp which directs bundled light beam at material on surface. Detector(s) register fluorescent radiation generated by material through illumination. DETAILED DESCRIPTION - An apparatus for the detection of material layer(s) (2) on a technical surface (1), comprises a lamp (3) which directs a bundled light beam (6) at the material on the surface. Detector(s) (4) register the fluorescent radiation (9) generated by the material through the illumination. The bundled light beam forms a point or linear pattern on the surface forming an enclosed angle with it of 0 deg. at most alpha at most 90 deg. . The detector forms a position resolution camera system with a camera viewing direction (8) forming an enclosed angle with the surface of 0 deg. at most beta at most 90 deg. . alpha and beta are unequal. The surface can be moved in relation to the bundled light beam. USE - The apparatus is for the detection of fluorescence generated from layer(s) of material on a technical surface which is classified according to its purity or the type or degree of contamination. It is used to give a qualitative or quantitative measurement of organic residue or soiling on a non-fluorescent technical surface, is useful as a quality check of finished and/or semi-finished products, and is also useful for registering the presence of insulation residue on an electrical contact surface area cleared of insulation. ADVANTAGE - The system combines the principle of fluorescence measurement with strip light projection. The measurements are without contact, or affected by external influences, giving a trouble-free and in-line test process.