Patent
Title

Vorrichtung zum Pruefen der Groesse und der Abstaende von Siliziumkristallen in Al-Si-Legierungen

Other Title
Device for testing the size and distances of silicon crystals in Al-Si alloys
Inventor(s)
Dutschke, W.
Jacklin, H.
Link to:
Patent Number
1977-2734234
Publication Date
1980
Language
German