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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Verfahren zur Schichtdickenmessung von elektrisch nicht leitenden Schichten auf elektrisch leitenden Material nach dem Wirbelstromverfahren
 
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Options
Patent
Title

Verfahren zur Schichtdickenmessung von elektrisch nicht leitenden Schichten auf elektrisch leitenden Material nach dem Wirbelstromverfahren

Other Title
Process for the measurement of the thickness of electrically non-conducting layers on electrically conducting material using the eddy-current process
Inventor(s)
Becker, R.
Betzold, K.
Regneri, L.
Rodner, C.
Link to:
Espacenet
Patent Number
1979-2923066
Publication Date
1982
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFP  
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