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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements und Halbleiterbauelement

Abstract
Ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements weist folgende Schritte auf: Bereitstellen einer Schichtstruktur des Halbleiterbauelements, wobei die Schichtstruktur eine erste Schicht aufweist, wobei die erste Schicht ein III-V-Verbindungshalbleitermaterial aufweist; Aufbringen einer zweiten Schicht auf eine Hauptoberflächenregion der ersten Schicht, so dass die zweite Schicht Silizium und ein Dotiermaterial für das Silizium aufweist; Aktivieren der zweiten Schicht, um zwischen der ersten Schicht und der zweiten Schicht einen ohmschen Kontakt auszubilden.
Inventor(s)
Dietz, Frank
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT  
Mensing, Michael
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT  
Züge, Heiko
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT  
Link to:
Espacenet
Patent Number
DE102022209112 A1
Publication Date
March 7, 2024
Language
German
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT  
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