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Patent
Title
Messvorrichtung zum Messen photokatalytischer Aktivitaet einer photokatalytischen Schicht
Other Title
Measuring apparatus for measuring photocatalytic activity of an irradiated photocatalytic layer using an indicator spaced from the layer being measured.
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Messung photokatalytischer Aktivitaet einer mit einer Strahlungsquelle bestrahlten photokatalytischen Schicht. Die Vorrichtung enthaelt eine Messsonde (1) mit einem Messkopf, wobei der Messkopf mit einem auf die photokatalytische Aktivitaet der photokatalytischen Schicht (3) reagierenden Indikator (5) ausgestattet ist. Das erfindungsgemaesse Verfahren sieht vor, dass ein auf die photokatalytische Aktivitaet reagierender Indikator (5) zur Messung der photokatalytischen Aktivitaet in einem geringen Abstand zur photokatalytischen Schicht (3) positioniert wird. Durch die erfindungsgemaesse Vorrichtung und das erfindungsgemaesse Verfahren ist es insbesondere moeglich, photokatalytische Schichten zerstoerungsfrei und definiert zu messen.
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DE1005003878 B UPAB: 20060814 NOVELTY - The measuring apparatus measures the activity of a layer (3) which is irradiated by a radiation source (2). The apparatus has a measuring probe (1) with a measuring head. The head is provided with an indicator (5) responsive to the photocatalytic activity of the layer. The indicator is positioned spaced from the layer to measure its activity. DETAILED DESCRIPTION - INDEPENDENT CLAIMS also cover a method of measuring the photocatalytic activity. USE - In e.g. window coatings, air, gas or water cleaning systems etc. ADVANTAGE - Does not require extensive preparation of the layer to be measured and is flexible in its application.
Inventor(s)
Zastrow, A.
Link to:
Patent Number
102005003878
Publication Date
2006
Language
German