Fraunhofer-Gesellschaft

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Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigration

 
: Jaeschke, Johannes

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Volltext urn:nbn:de:0011-n-2139013 (4.4 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 8d9101776a917b16093648ee9a0da763
Erstellt am: 20.9.2012

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Stuttgart: Fraunhofer Verlag, 2012, XVII, 141 S.
Zugl.: Berlin, TU, Diss., 2012
ISBN: 3-8396-0431-1
ISBN: 978-3-8396-0431-1
Deutsch
Dissertation, Elektronische Publikation
Fraunhofer IZM ()
Angewandte Forschung; applied research

Abstract
In dieser Arbeit werden die überlagerten Fehlermechanismen innerhalb von Lotverbindungen zur Bewertung der Zuverlässigkeit bei Elektromigration untersucht und modelliert.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-213901.html