Fraunhofer-Gesellschaft

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Robuste und zuverlässige Leistungselektronik: Umwelt- und Lebensdauertests

Vortrag gehalten beim 8. Kooperationsforum Leistungselektronik , 01.10.2019, Würzburg
 
: Schletz, Andreas

:
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MD5 Fingerprint: 32ddad9ceded4eaf409cdfc1925a1ecc
Created on: 17.10.2019


2019, 28 Folien
Kooperationsforum Leistungselektronik <8, 2019, Würzburg>
German
Presentation, Electronic Publication
Fraunhofer IISB ()
lifetime test; power cycling lifetime

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-561755.html