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Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigration

Fulltext urn:nbn:de:0011-n-2139013 (4.4 MByte PDF)

MD5 Fingerprint: 8d9101776a917b16093648ee9a0da763

Created on: 20.9.2012

	Stuttgart: Fraunhofer Verlag, 2012, XVII, 141 pp. Zugl.: Berlin, TU, Diss., 2012 ISBN: 3-8396-0431-1 ISBN: 978-3-8396-0431-1

	German
	Dissertation, Electronic Publication
	Fraunhofer IZM ()
	Angewandte Forschung; applied research

Abstract
In dieser Arbeit werden die überlagerten Fehlermechanismen innerhalb von Lotverbindungen zur Bewertung der Zuverlässigkeit bei Elektromigration untersucht und modelliert.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-213901.html