Frietsch, R.R.FrietschSchmoch, U.U.SchmochLooy, B. vanB. vanLooyWalsh, J.P.J.P.WalshDevroede, R.R.DevroedeDu Plessis, M.M.Du PlessisJung, T.T.JungMeny, Y.Y.MenyNeuhäusler, P.P.NeuhäuslerPeeters, B.B.PeetersSchubert, T.T.Schubert2022-03-072022-03-072010https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/294823en303600The value and indicator function of patentsstudy