Heumüller, R.R.HeumüllerHöh, F.F.HöhKappes, W.W.KappesStanger, H.-K.H.-K.Stanger2022-03-082022-03-081987https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/315488Das ALOK-Verfahren benutzt zur Reflektorbeschreibung das Laufzeitverhalten der Echosignale, das bei der Pruefkopfbewegung zustande kommt. Bei der Auswertung der Ultraschalldaten von Wiederholungspruefungen hinsichtlich der Ueberwachung bereits analysierter Fehlstellen, kann eine Vereinfachung der Auswerteprozedur durch Vergleich der Laufzeitortskurvenmuster erfolgen, welche die Fehlstellen charakterisieren. Ein waehrend der Betriebsphase der zu pruefenden Komponente aufgetretenes Fehlerwachstum kann anhand von Veraenderungen der Laufzeitmuster detektiert und groessenmaessig bestimmt werden. (IZFP)deALOKErkennung von FehlerwachstumLaufzeitbewertungUS-Prüfung(automatisiert)620658670conference paper