Under CopyrightKaminzky, DanielDanielKaminzkyKallinger, BirgitBirgitKallingerBerwian, PatrickPatrickBerwianFriedrich, JochenJochenFriedrichOppel, SteffenSteffenOppelSchütz, MichaelMichaelSchütz2022-03-129.4.20152014https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/38699110.24406/publica-fhg-386991dePhotolumineszenzKristalldefektMaterialcharakterisierungQualitätssicherung670620530Defektlumineszenz in 4H-SiCpresentation