Under CopyrightDemant, MatthiasMatthiasDemantWelschehold, T.T.WelscheholdOswald, M.M.OswaldBartsch, SebastianSebastianBartschSchönfelder, S.S.SchönfelderRein, StefanStefanRein2022-03-132025-07-2412.8.20172016https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/39745510.24406/publica-fhg-397455enPV ProduktionstechnologieQualitätssicherungPhotovoltaikSilicium-PhotovoltaikMesstechnik und Produktionskontrollewafermicro-crackstrengthbreakageinspection621697Incoming control of silicon wafers - detection and rating of micro-crackspresentation