Aschmoneit, E.K.E.K.AschmoneitKaufmann, U.U.KaufmannWindscheif, J.J.Windscheif2022-03-022022-03-021984https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/170640deAntisitedefektGaAsIR-Topografie621667Antisite Defekte in III-V-Halbleiternjournal article