Fiedler, H.-L.H.-L.Fiedler2022-03-082022-03-081991https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/318408Mit zunehmender Verbreitung der Mikroelektronik wird deren EMV in vielen Anwendungsgebieten zu einem entscheidenden Kriterium. Unter den Aspekten der Funkentstörung und der Störempfindlichkeit werden die grundsätzlichen Randbedingungen der monolithischen Integration untersucht.deelektromagnetische VerträglichkeitEMVStörstrahlung621conference paper