Fratz, MarkusMarkusFratzSeyler, TobiasTobiasSeylerSchiller, AnnelieAnnelieSchillerBertz, AlexanderAlexanderBertz2022-03-062022-03-062021https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/271367deOptische 3D-Messtechnik3D-OberfllächenmessungOberflächenmessungdigitale HolographieInline-Messtechnik621Submikrometergenaue 3D-Oberflächenmessung in der Produktionbook article