Under CopyrightMüller, LeifLeifMüllerLange, AndréAndréLangeSohrmann, ChristophChristophSohrmannJancke, RolandRolandJancke2022-03-1223.5.20132013https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/38005610.24406/publica-fhg-380056Die Zuverlässigkeit integrierter Schaltkreise bestimmt oft maßgeblich die Qualität eines technischen Produkts. Weil Alterungseffekte die Schaltungskenngrößen beeinträchtigen können, müssen diese in der Schaltungsanalyse parallel zum Entwurf untersucht werden. Wie Transistordegradation beschrieben werden kann, ist Gegenstand aktueller Forschungsarbeiten, welche sich daher selten mit der Einbindung der Modelle in Schaltungssimulationen befassen. Andererseits existieren erste kommerzielle Lösungen zur Berücksichtigung von Transistordegradation in Schaltungssimulationen, jedoch ohne die notwendige Flexibilität für moderne Degradationsmodelle oder die Kombination unterschiedlicher Zuverlässigkeitsaspekte. In diesem Beitrag wird das Werkzeug CHRONOS vorgestellt. Es ermöglicht eine flexible Alterungssimulation unabhängig vom verwendeten Design-Flow, was an einfachen Anwendungsfällen demonstriert wird.de621004conference paper