Under CopyrightJaeschke, JohannesJohannesJaeschke2022-03-0720.9.20122012https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/27938510.24406/publica-fhg-279385In dieser Arbeit werden die überlagerten Fehlermechanismen innerhalb von Lotverbindungen zur Bewertung der Zuverlässigkeit bei Elektromigration untersucht und modelliert.deAngewandte Forschungapplied researchBewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigrationdoctoral thesis