Bertz, AlexanderAlexanderBertz2022-03-062022-03-062021https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/269769Die digitale Mehrwellenlängenholographie hat sich zu einer der schnellsten und gleichzeitig genauesten Methoden zur Erfassung der Oberflächentopographie von Bauteilen in der Produktionslinie entwickelt. Sie ist vielseitig anpassbar und liefert bei hohen Messraten hochgenaue Messergebnisse.deDigitale MehrwellenlängenholographieOberflächentopographieBauteilinspektionInline-PrüfungFertigungsmesstechnik621620journal article