Maisl, MichaelMichaelMaislHerrmann, Hans-GeorgHans-GeorgHerrmannMoryson, RalfRalfMorysonSklarczyk, ChristophChristophSklarczykHerrmann de Valliere, EstherEstherHerrmann de Valliere2022-03-082022-03-082016https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/311020Beschrieben wird eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zur entfernungsaufgelösten Bestimmung eines physikalischen Parameters in einer Messumgebung unter Nutzung einer zerstörungsfreien Prüftechnik mit wenigstens einem Mikrowellen-Sensor-Paar, das einen ersten und zweiten Mikrowellen-Sensor umfasst, die in einem ersten vorgegebenen Abstand zueinander längs einer gemeinsamen Messebene angeordnet sind und jeweils eine Sende- und Empfangsapertur aufweisen, die innerhalb eines der Messumgebung zugewandten Halbraumes überlappen, einem ortsauflösenden optischen Sensor mit einer zumindest teilweise den Bereich der überlappenden Sende- und Empfangsaperturen des wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paars erfassenden Sensorapertur, einer Datenerfassungseinheit, die in einer Datenverbindung mit dem wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paar sowie dem ortsauflösenden optischen Sensor steht, in der Mikrowellen-Sensor-Daten sowie optische Sensordaten erfassbar sind sowie einer Auswerteinheit, in der die erfassten Mikrowellen-Sensor-Daten auf der Grundlage der optischen Sensordaten zur entfernungsaufgelösten Bestimmung des physikalischen Parameters auswertbar sind.de620patent102015209578