Pfeifer, TiloTiloPfeiferWegner, RonnyRonnyWegnerMischo, HorstHorstMischo2023-07-282023-07-281998https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/19340310.1524/teme.1998.65.3.96In der ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry) erlaubt der Einsatz von kontinuierlich durchstimmbaren Halbleiterdiodenlasern die Messung der 3D-Topographie von technischen Freiformflächen. Die Auflösung dieser Zweiwellenlängen-ESPI (TWESPI) hängt entscheidend von dem durchstimmbaren Wellenlängenbereich des eingesetzten Lasers ab. Mit einem Distributed-Bragg-Reflector--Laser (DBR-Laser) konnten Formmessungen erfolgreich durchgeführt werden. In diesem Beitrag wird über weiterführende Methoden des Einsatzes eines DBR-Lasers zur Erweiterung des Meßbereiches, zur Phasenschiebung und zur Kalibrierung des Meßsystems berichtet. Darüber hinaus wird ein Aufbau zur kombinierten Messung von Form und Deformation vorgestellt und entsprechend Meßresultate präsentiert.dedurchstimmbarer HalbleiterdiodenlaserESPIFormprüfungkodierte BeleuchtungSpeckle-InterferometrieVerformungsprüfung670658681journal article