Jancke, R.R.JanckeEllmers, C.C.EllmersFrevert, R.R.FrevertGaertner, R.R.Gaertner2022-03-102022-03-102008https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/358643Der Entwurf zuverlässiger Schaltungen in modernen Fertigungstechnologien ist zukünftig nur noch mit Hilfe von hochentwickelten Modellierungs- und Simulationsmethoden möglich. Der vorliegende Beitrag präsentiert Verfahren, mit denen sich Degradationseffekte von Bauelementen und deren Auswirkungen auf das Gesamtverhalten einer Schaltung untersuchen lassen. Als ein wichtiger Degradationsmechanismus für MNOS-Transistoren wird die Hot-Carrier-Injection betrachtet. Die Berechnung und Visualisierung von SOA-Diagrammen (SOA: Safe Operating Area) unterstützt den Entwerfer bei der Analyse von Ursachen für vorzeitige Alterung.de621conference paper