Gesang, T.T.GesangHöper, R.R.HöperDieckhoff, S.S.DieckhoffSchlett, V.V.SchlettPossart, W.W.PossartHennemann, O.-D.O.-D.Hennemann2022-03-032022-03-031995https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/18682010.1016/0040-6090(95)05846-X2-s2.0-0029352406enadsorptionAFMaluminium coatingborderline anglecontact anglecoplanarCopolymerdip coatingfilm formationFilmwachstumGrenzlinienwinkelKontaktwinkelprepolymersilicon waferSilizium-Waferspin coating621620660671541Organic film formation investigated by atomic force microscopy on the nanometer scaleUntersuchung der Bildung organischer Filme auf Nonometerskala mittels Rasterkraftmikroskopiejournal article