Michel, B.B.MichelGroßer, V.V.GroßerDudek, R.R.DudekKühnert, R.R.KühnertSchubert, A.A.Schubert2022-03-032022-03-031993https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/183858de621Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen. Teil 1journal article