Zuverlässige Mikroelektronik durch KI-basierte Fehleranalyse. Teilvorhaben: Intelligente Methoden auf der Basis des maschinellen Lernens zur Unterstützung der Fehleranalytik

2022-09-082022-09-08https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/425204Zuverlässige Mikroelektronik durch KI-basierte Fehleranalyse. Teilvorhaben: Intelligente Methoden auf der Basis des maschinellen Lernens zur Unterstützung der Fehleranalytik