Stackelberg, B. vonB. vonStackelbergHübner, S.S.HübnerFuchs, T.T.FuchsHaßler, U.U.Haßler2022-03-112022-03-112009https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/364651de621Tiefenlagenbestimmung in der optisch angeregten Thermographieconference paper