Warnecke, H.-J.H.-J.WarneckeKeferstein, C.P.C.P.Keferstein2022-03-022022-03-021985https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/172877deBildverarbeitung(automatisiert)GeometriepruefungSensorsystem(optoelektronisch)670681Optoelektronisches Sensorsystem zur Geometriepruefung mit automatisierter Bildverarbeitungjournal article