Fritz, J.J.Fritz2022-03-062022-03-061990https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/271741deCMOS-SchaltungElektrooptikLaserscan-MikroskopOPIC-EffektPhysikalischer EffektPockels-Effekt621Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungendoctoral thesis