Under CopyrightSchneider, P.P.SchneiderEichler, UweUweEichlerEinwich, K.K.EinwichSchwarz, P.P.Schwarz2022-12-022022-12-022004https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/34700010.24406/publica-fhg-347000Die Entwicklung neuer Mess- und Prüfsysteme kann durch rechnergestützte Entwurfsverfahren, vor allem durch Simulation und Optimierung, erheblich effektiviert werden. Die gemeinsame Modellierung von Messobjekt, Messgerät und (ggf. adaptiven) Signalverarbeitungsalgorithmen ermöglicht eine Gesamtsystemsimulation. Eine verwandte Methode wird in der Elektronik als virtueller Test bezeichnet. Der Einsatz von Werkzeugen wie MATLAB/SIMULINK und SystemC-AMS wird beschieben.deSystemC AMS621conference paper