Hilt, MichaelMichaelHiltNothhelfer-Richter, RolfRolfNothhelfer-Richter2022-03-042022-03-042012https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/228790Mit neuen Techniken lässt sich die Nutzung der klassischen Rasterelektronenmikroskopie zur Analyse organischer Beschichtungen enorm erweitern. Insbesondere eröffnet sich damit der bisher nur schwierig zugängliche Größenbereich der nanoskaligen Beschichtungsbestandteile.deRasterelektronenmikroskopieBeschichtung667journal article