Schmid, MaximilianMaximilianSchmidElger, GordonGordonElger2022-11-112022-11-112022-06https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/428585Die Wärmeabfuhr in der Leistungs- und Optoelektronik ist eine zentrale Herausforderung, um lange Lebensdauer zu ermöglichen. Dazu braucht es zuverlässige Lote. Die transiente thermische Analyse als nicht-zerstörendes Prüfverfahren kann die Qualifizierung der Lote vereinfachen.deZuverlässigkeitsprüfungLötenLeistungselektronikOptoelektronikjournal article