Under CopyrightBecker, B.B.BeckerPolian, I.I.PolianHellebrand, S.S.HellebrandStraube, B.B.StraubeWunderlich, H.-J.H.-J.Wunderlich2022-03-1019.04.20072007https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/35438010.24406/publica-fhg-354380Neben der zunehmenden Anfälligkeit gegenüber Fertigungsfehlern bereiten insbesondere vermehrte Parameterschwankungen, zeitabhängige Materialveränderungen und eine erhöhte Störanfälligkeit während des Betriebs massive Probleme bei der Qualitätssicherung für nanoelektronische Systeme. Für eine wirtschaftliche Produktion und einen zuverlässigen Systembetrieb wird einerseits ein robuster Entwurf unabdingbar, andererseits ist damit auch ein Paradigmenwechsel beim Test erforderlich. Anstatt lediglich defektbehaftete Systeme zu erkennen und auszusortieren, muss der Test bestimmen, ob ein System trotz einer gewissen Menge von Fehlern funktionsfähig ist, und die verbleibende Robustheit gegenüber Störungen im Betrieb charakterisieren. Im Rahmen des Projekts RealTest werden einheitliche Entwurfs- und Teststrategien entwickelt, die sowohl einen robusten Entwurf als auch eine darauf abgestimmte Qualitätssicherung unterstützen.de621004conference paper