Rämer, Jan-MartinJan-MartinRämerFreymann, Georg vonGeorg vonFreymann2022-03-082022-03-082015https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/310569Source: DE102013112935B3 [DE] Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur S-Parameter Charakterisierung von elektrischen Bauelementen, bei welchen eine Strahlungsquelle (001) ein Emitter (101) nachgeordnet ist, welcher an ein elektronisches Bauteil (121) angekoppelt und mit einem Detektor (111) verbunden ist sowie ein Verfahren zur Charakterisierung der S-Parameter des elektronischen Bauteils sowie die Verwendung der Vorrichtung in dem genannten Verfahren.de621patent102013112935