Kech, A.A.KechGöschel, U.U.GöschelMüller, U.U.MüllerOsterloh, S.S.OsterlohEyerer, P.P.Eyerer2022-03-092022-03-092001https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/338475de660Schadensanalyse mittels mikroskopischer Methodenconference paper