Rümmler, N.N.RümmlerSchnitzer, R.R.SchnitzerDöring, R.R.DöringKaulfersch, E.E.KaulferschFaust, W.W.FaustMichel, B.B.Michel2022-03-092022-03-092000https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/336278en621Reliability investigations of vibration excited circuit boardsconference paper