Höfler, H.H.Höfler2022-03-022022-03-021986https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/173867Einen wichtigen Aspekt der Oberflaechenmesstechnik stellt die Erfassung topografischer Eigenschaften wie Formabweichungen, Welligkeit, Rauhigkeit oder Einzeldefekten dar. In vielen kleineren und mittleren Unternehmen fehlt jedoch oft die personelle und auch apparative Ausstattung, um der Bedeutung dieser Eigenschaften durch die entsprechende messtechnische Erfassung Rechnung zu tragen. Oftmals stehen aber auch Probleme an, fuer die bisher kein geeignetes Messverfahren existiert. Dies gilt im besonderen Masse fuer die automatische Einzeldefekterkennung an Oberflaechen. Dies ist kurz zusammengefasst das Ergebnis einer Bedarfserhebung im Bereich Oberflaechenmesstechnik. Zur Loesung der anstehenden Probleme sind eine ganze Reihe neuer Entwicklungen zum Teil bereits abgeschlossen, zum Teil jedoch noch im Laborstadium. Gefragt sind vor allem beruehrungsfreie Messungen, so dass in vielen Faellen optische Verfahren eingesetzt werden. Beispiele dafuer sind Moire-Verfahren, Interferometrie oder Streulicht-Verfahren. (IPM)deBedarfserhebungMeßverfahren(optisch)OberflächenmeßtechnikTopographiemessung621620journal article