Schenk, FriedrichFriedrichSchenkBrill, NicolaiNicolaiBrillMarx, UlrichUlrichMarx2022-03-082022-03-082016https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/310834Im Hinblick auf eine sichere Bildgebung bei besonders hohem möglichem Durchsatz an zu untersuchenden Objekten ist ein Verfahren zur Bildgebung in der Mikroskopie, insbesondere zur Hochdurchsatzbildgebung, angegeben, wobei eine Bildebene eines zu untersuchenden Objekts definiert wird, wobei mehrere Bilder mit Fokus auf die Bildebene des Objekts bei entlang einem vorgebbaren Weg in einer X-Y-Ebene bewegtem Objekt mittels einer Kamera durch ein Objektiv aufgenommen werden und wobei ein Zeitpunkt der Bildaufnahmen wegabhängig über ein Triggersignal mit Auslösung einer Blitzbeleuchtung gesteuert wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass für die Bildaufnahmen eine automatische Einstellung des Fokus auf die Bildebene auf der Grundlage interferometrisch in einer Z-Richtung gewonnener Z-Positionsswerte des Objekts und/oder der Bildebene erfolgt.; Des Weiteren ist eine entsprechende Vorrichtung zur Bildgebung in der Mikroskopie angegeben.de658patent102014217328