Schmitz, V.V.SchmitzGebhardt, W.W.Gebhardt2022-03-082022-03-081985https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/301885Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fehlerabbildung mittels eines Phased-Array-Geraetes mit verbessertem Signal-Rausch-Abstand, wobei die Signale, die bei einem Sektorscan anfallen, aufaddiert werden, fuer jeden Einschallwinkel digitalisiert abgespeichert, b) bei der naechsten Pruefkopfposition die Massnahme durchgefuehrt wird, die Werte aufaddiert werden und nach dem letzten Pruefschuss die positiven und negativen Signalanteile gleichgerichtet und als Intensitaet auf einem Bildschirm dargestellt wird.de608620658670patent1982-3236018