Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe

Siegele, D.D.SiegeleSchmitt, W.W.Schmitt2022-03-082022-03-081983https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/313720deKompaktprobeOberflächenfehler(halbelliptisch)SpannungszustandVergleich531620Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobeconference paper