Hochtemperatur-Risswiderstand und Kriechrisswachstum - Untersuchungen mit dem Gleichstrompotential- und dem Teilentlastungsverfahren

Voss, B.B.VossHollstein, T.T.Hollstein2022-03-082022-03-081983https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/313646deGleichstromHochtemperaturRißwiderstandTeilentlastung531620Hochtemperatur-Risswiderstand und Kriechrisswachstum - Untersuchungen mit dem Gleichstrompotential- und dem Teilentlastungsverfahrenconference paper